目的 探讨新生儿低血糖导致的脑损伤的风险因素及影像学特征。方法 选取2020年8月至2021年7月我院收治的154例低血糖新生儿进行回顾性分析，均采用磁共振成像(MRI)评估脑损伤情况，并进行单因素分析与Logistic多因素回归分析。结果 154例低血糖新生儿中发生脑损伤27例(17.53%)，与未发生组比较，发生组早产、围产期缺氧、喂养困难、惊厥、脑电图(EEG)异常、母亲合并妊娠糖尿病、低血糖持续时间>24h、脑红蛋白(NGB)水平≥150mg/L、神经元特异性烯醇化酶(NSE)水平≥50μg/L的患儿占比均更高(P<0.05)；Logistic多因素分析结果显示，胎龄(OR=1.902)、围产期缺氧(OR=1.781)、喂养困难(OR=2.395)、惊厥(OR=12.366)、EEG异常(OR=15.251)、母亲合并妊娠糖尿病(OR=8.793)、低血糖持续时间(OR=8.156)、NGB水平(OR=2.935)、NSE水平(OR=2.411)是影响低血糖脑损伤发生的独立危险因素(P<0.05)；27例低血糖脑损伤患儿均存在顶枕部头皮层受累，磁共振扩散加权成像(DWI)均表现为高信号，14例(51.85%)患儿经T1加权像(T1WI)、矢状面T2加权像(T2WI)均正常信号，2例(7.41%)T1WI正常信号、T2WI高信号，2例(7.41%)T1WI低信号、T2WI正常信号，9例(33.33%)T1WI低信号、T2WI高信号。结论 新生儿低血糖导致的脑损伤的风险因素包括胎龄、围产期缺氧、喂养困难、惊厥、EEG异常、母亲合并妊娠糖尿病、低血糖持续时间、NGB和NSE水平等，患儿影像学特征可表现为顶枕部头皮层受累、DWI高信号，部分患儿T1WI、T2WI信号异常。