摘要
目的 探究磁敏感加权成像技术(SWI)在弥漫性轴索损伤(DAI)中的应用价值。方法 选择2017年3月至2019年1月我院收治的DAI患者作为研究对象，所有患者均行常规MRI扫描及SWI扫描，比较各序列对DAI的检出率，分析SWI检出DAI数量与格拉斯哥昏迷(GCS)评分的相关性。结果 SWI序列病灶检出率显著高于T1WI、T2WI、FLAIR、DWI序列(P<0.05)； DAI信号灶在T1WI上急性期表现为略高信号或等信 号，亚急性期为高信号；T2WI及FLAIR序列急性期表现为低或等信号，亚急性期为高信号；DWI序列下急性期病灶多表现为不均匀高信号；DAI信号灶在磁矩图上表现为低信号，相位图上为高信号，SWI 及Min IP图表现为低信号；各部位DAI出血灶数目与GCS评分呈负相关(P<0.05)。结论 SWI序列可较好显示DAI病灶，与常规MRI序列相比，对病灶的检出效果更好。
【关键词】弥漫性轴索损伤；磁敏感加权成像；磁共振扫描
【中图分类号】R445
【文献标识码】A
【DOI】10.3969/j.issn.1672-5131.2021.07.008
中国CT和MRI杂志
第19卷， 第 7 期
2021年07月
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